SEM掃描電鏡的操作規(guī)范介紹
日期:2024-12-12 09:53:06 瀏覽次數(shù):10
掃描電鏡是用于觀測組織或材料表面形貌的重要工具。以下是SEM掃描電鏡的操作規(guī)范介紹:
一、準(zhǔn)備階段
樣品準(zhǔn)備:
確保樣品已完全干燥。
準(zhǔn)備必要的耗材,如樣品臺、導(dǎo)電膠帶、鑷子、剪刀和手套。
使用導(dǎo)電膠帶將樣品固定在樣品臺上,并確保樣品牢固粘貼。操作過程中應(yīng)佩戴手套,以防污染樣品。
噴金鍍膜:
由于生物組織等樣品不具備導(dǎo)電性,需進(jìn)行噴金鍍膜處理,以增加形貌襯度。
噴金參數(shù)應(yīng)根據(jù)實(shí)驗(yàn)室的具體設(shè)備進(jìn)行調(diào)整,需提前與負(fù)責(zé)老師或技術(shù)人員確認(rèn)。
二、安裝樣品臺
打開電腦和軟件:
啟動(dòng)電腦,雙擊掃描電鏡的軟件圖標(biāo)以打開軟件。
連接SEM掃描電鏡:
根據(jù)軟件提示,點(diǎn)擊“確定”以連接掃描電鏡設(shè)備。
安裝樣品臺:
點(diǎn)擊右上角“快速換樣”,根據(jù)彈窗指示,點(diǎn)擊“確定”。此時(shí)樣品臺移動(dòng)至規(guī)定位置。
點(diǎn)擊交換倉“抽氣”按鍵,開始交換倉抽真空操作,直至指示燈常亮,提示真空狀態(tài)已完成。
點(diǎn)擊交換倉“開/關(guān)傳輸門”按鍵,打開交換倉與樣品倉之間的隔板。
打開樣品桿鎖扣,向內(nèi)推進(jìn)樣品桿至底部,順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)樣品桿旋鈕,鎖定樣品臺并向外拉出樣品桿,鎖上鎖扣。此時(shí),樣品臺被樣品桿從樣品倉中取出至交換倉。
再次點(diǎn)擊交換倉“開/關(guān)傳輸門”按鍵,關(guān)閉交換倉與樣品倉之間的隔板。
點(diǎn)擊交換倉“放氣”按鍵,解除交換倉真空狀態(tài),然后打開交換倉,放入樣品。
關(guān)上交換倉,依次執(zhí)行“抽氣”、“開/關(guān)傳輸門”推進(jìn)樣品桿操作。待樣品臺進(jìn)入指定位置后,逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)樣品桿旋鈕,拉出樣品桿,并關(guān)上隔板。
三、SEM掃描電鏡觀察
選擇樣品臺:
點(diǎn)擊軟件右上角“工作”按鈕,根據(jù)彈窗提示選擇已安裝的樣品臺。
開啟束流:
點(diǎn)擊軟件右上角“打開束流”按鈕,以開啟電子束流。
導(dǎo)航拍照:
點(diǎn)擊軟件左下角“導(dǎo)航拍照”按鈕,導(dǎo)入樣品導(dǎo)航界面。
設(shè)置工作高度和樣品高度:
根據(jù)樣品的高度和類型,在Z軸輸入窗口輸入相應(yīng)的數(shù)值,以界定工作高度和樣品高度。
移動(dòng)樣品位置:
在樣品導(dǎo)航界面用鼠標(biāo)雙擊,以移動(dòng)樣品位置。這通常用于定位不同的樣品。
在成像界面用鼠標(biāo)雙擊,同樣可以移動(dòng)樣品位置。這通常用于觀察同一樣品的不同位置。
圖像調(diào)節(jié):
使用鼠標(biāo)滾輪進(jìn)行圖像的放大和縮小操作。
點(diǎn)擊工具欄的相應(yīng)按鈕進(jìn)行樣品預(yù)覽、亮度和對比度的調(diào)節(jié)。
在放大倍數(shù)較小時(shí),可以點(diǎn)擊工具欄的按鈕進(jìn)行自動(dòng)聚焦和自動(dòng)消像散。
在放大倍數(shù)較大時(shí),采用手動(dòng)聚焦。點(diǎn)擊工具欄的“慢掃”和“選區(qū)”功能,將選區(qū)框移動(dòng)至居中位置。然后按住鼠標(biāo)右鍵左右滑動(dòng),以確定焦點(diǎn)位置(*清晰時(shí))。取消“選區(qū)”后,該焦點(diǎn)將應(yīng)用于整個(gè)視野。
四、注意事項(xiàng)
電源穩(wěn)定:
確保電源穩(wěn)定,避免電壓波動(dòng)過大,以保護(hù)掃描電鏡設(shè)備和樣品。
真空度要求:
在加高壓前,真空度B須達(dá)到額定值。氣體電離度大會損傷電子槍。
完成SEM掃描電鏡觀察后,應(yīng)關(guān)閉高壓,并等待至少30秒以上,待燈絲冷卻后再進(jìn)行放氣操作,以保護(hù)電子槍。
樣品臺移動(dòng)限制:
樣品臺在平面方向和上下方向都有額定移動(dòng)距離。當(dāng)移動(dòng)到極限位置時(shí),設(shè)備會發(fā)出報(bào)警提示。此時(shí),應(yīng)立即停止移動(dòng)并往回移。
在向上移動(dòng)樣品臺時(shí),應(yīng)緩慢操作,以防止堅(jiān)硬樣品撞擊上方的探測器和極靴,從而損壞設(shè)備。
電子束與樣品作用:
在掃描電鏡觀察過程中,電子束與樣品會發(fā)生相互作用,激發(fā)出多種信號。這些信號包括二次電子信號(用于形貌觀察)、背散射電子信號(用于區(qū)分微區(qū)成分)等。應(yīng)根據(jù)觀察目的選擇合適的信號進(jìn)行觀察和分析。
綜上所述,SEM掃描電鏡的操作規(guī)范涉及樣品準(zhǔn)備、安裝樣品臺、掃描電鏡觀察和注意事項(xiàng)等多個(gè)方面。只有嚴(yán)格按照操作規(guī)范進(jìn)行操作,才能確保SEM掃描電鏡設(shè)備的正常運(yùn)行和觀察結(jié)果的準(zhǔn)確性。
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