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MORE+微儀光電（天津）有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動(dòng)化、顯微專(zhuān)用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷(xiāo)售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專(zhuān)業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究，新產(chǎn)品新技術(shù)開(kāi)發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊(duì)。 在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動(dòng)化系統(tǒng)，不斷開(kāi)發(fā)出能滿(mǎn)足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計(jì)量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。 致力于向客戶(hù)提供原位透射電鏡解決方案、臺(tái)式掃描電鏡,掃描電鏡,臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī),sem掃描電鏡,原位掃···
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新聞中心
NEWS
2024-12-03
SEM掃描電鏡導(dǎo)電性材料如何制備
SEM（掃描電子顯微鏡）樣品的制備過(guò)程對(duì)于確保觀(guān)測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性至關(guān)重要，特別是針對(duì)導(dǎo)電性材料的制備，需要注意以下幾點(diǎn)：一、塊狀導(dǎo)電樣品的制備 樣品尺寸與固定：確保樣品的大小適合電鏡樣品底座的尺寸。...
MORE2024-12-02
SEM掃描電鏡在能源領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡（Scanning Electron Microscope）在能源領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用，其高分辨率和多功能性使其成為研究和分析能源材料的重要工具。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在能源領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹：一、掃描電鏡的基本原理 SEM掃描電鏡利用高能電子束掃描樣品表面，通過(guò)檢測(cè)與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)（如二次電子、背散射電子等）來(lái)獲取樣品表面的形貌和成分信息。這些信息可以用于表征樣品的物理和化學(xué)性質(zhì)，為能源材料的研究和開(kāi)發(fā)提供重要依據(jù)。...
MORE2024-11-29
SEM掃描電鏡在刑事偵察方面的應(yīng)用介紹
掃描電鏡（Scanning Electron Microscope）在刑事偵察方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，其高分辨率、大景深和多種分析功能使其成為法醫(yī)物證分析的重要工具。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在刑事偵察方面應(yīng)用的詳細(xì)介紹：一、法醫(yī)物證分析 纖維與毛發(fā)分析：掃描電鏡能夠清晰地區(qū)分人的頭發(fā)與動(dòng)物的毛發(fā)，甚至可以通過(guò)高倍放大觀(guān)察人發(fā)的細(xì)節(jié)，如種族特征、是否經(jīng)過(guò)化學(xué)處理等。這對(duì)于犯罪現(xiàn)場(chǎng)遺留的毛發(fā)物證分析具有重要意義。...
MORE2024-11-28
SEM掃描電鏡如何觀(guān)察樣品的表面形貌
掃描電鏡是通過(guò)電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生高分辨率的圖像，從而觀(guān)察樣品的表面形貌的。以下是SEM掃描電鏡觀(guān)察樣品表面形貌的詳細(xì)步驟和注意事項(xiàng)：一、樣品準(zhǔn)備 導(dǎo)電性處理：對(duì)于非導(dǎo)電樣品，通常需要進(jìn)行鍍膜處理，使用金、鉑等導(dǎo)電材料沉積一層薄膜，以避免電子積累（charging effect）干擾成像。...
MORE2024-11-27
SEM掃描電鏡樣品的處理過(guò)程介紹
掃描電鏡樣品的處理過(guò)程是確保成像效果的關(guān)鍵步驟，主要包括以下環(huán)節(jié)：一、樣品準(zhǔn)備 取樣：根據(jù)需要觀(guān)察的樣品類(lèi)型和特征，切取適當(dāng)大小和形狀的樣品。對(duì)于SEM掃描電鏡來(lái)說(shuō)，所切取樣品比透射電鏡樣品稍大一些，通常為8~10mm2，高約5mm。同時(shí)，樣品應(yīng)具有代表性，能夠反映所研究材料的整體性能。...
MORE2024-11-26
SEM掃描電鏡塊狀樣品如何制備
掃描電鏡掃描塊狀樣品的制備方法主要根據(jù)樣品的導(dǎo)電性和大小來(lái)決定。以下是一個(gè)基本的制備流程：一、樣品準(zhǔn)備 選擇樣品：確保樣品的大小適合SEM掃描電鏡的樣品底座尺寸。如果樣品過(guò)大，可能需要進(jìn)行切割或鑲嵌處理。...
MORE2024-11-25
SEM掃描電鏡在礦物領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在礦物領(lǐng)域的應(yīng)用十分廣泛，它提供了高分辨率的成像能力，使得研究人員能夠深入觀(guān)察礦物的微觀(guān)結(jié)構(gòu)和成分。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在礦物領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹：一、礦物形貌觀(guān)察 掃描電鏡能夠清晰地展示礦物的微觀(guān)形貌，包括晶體的形態(tài)、大小、生長(zhǎng)特征以及表面紋理等。這些形貌特征對(duì)于鑒定礦物種類(lèi)、研究礦物成因和演化過(guò)程具有重要意義。...
MORE2024-11-22
SEM掃描電鏡用到的技術(shù)有那些
SEM（掃描電鏡，Scanning Electron Microscope）掃描電鏡用到的技術(shù)主要包括以下幾個(gè)方面：一、基本原理技術(shù) 掃描電鏡是利用高能電子束掃描樣品表面，并通過(guò)檢測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來(lái)獲得樣品表面微觀(guān)結(jié)構(gòu)的成像工具。其成像原理主要基于電子與物質(zhì)的相互作用，包括：...
MORE2024-11-21
SEM掃描電鏡沒(méi)有圖像怎么解決
掃描電鏡沒(méi)有圖像的問(wèn)題可能涉及多個(gè)方面，以下是一些可能的解決方案：一、檢查電子束 電子束產(chǎn)生：確認(rèn)電子槍是否正常工作，電子束是否成功產(chǎn)生。檢查電子束的聚焦和掃描是否正常，可以通過(guò)觀(guān)察電子束在樣品上的掃描軌跡來(lái)判斷。...
MORE2024-11-20
科研級(jí)的SEM掃描電鏡有那些特殊的優(yōu)點(diǎn)
科研級(jí)的SEM（掃描電子顯微鏡）掃描電鏡具有一系列特殊的優(yōu)點(diǎn)，使其成為科研分析、產(chǎn)品質(zhì)量控制等領(lǐng)域的重要工具。以下是對(duì)其特殊優(yōu)點(diǎn)的歸納：高分辨率：掃描電鏡的分辨率通?？梢赃_(dá)到納米級(jí)別，遠(yuǎn)高于光學(xué)顯微鏡。新式的SEM掃描電鏡分辨率甚至可以達(dá)到1納米或更低，使得研究者能夠深入了解被掃描物質(zhì)的微觀(guān)結(jié)構(gòu)。...
MORE2024-11-19
SEM掃描電鏡必掌握的關(guān)鍵點(diǎn)分享
掃描電鏡作為一種高性能成像工具，在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。為了確保能夠充分發(fā)揮SEM掃描電鏡的潛力并獲得高質(zhì)量的圖像，以下是一些必須掌握的關(guān)鍵點(diǎn)：一、掃描電鏡的基本原理與構(gòu)造 基本原理：SEM掃描電鏡利用聚焦電子束對(duì)樣品表面進(jìn)行掃描，通過(guò)收集樣品在電子束作用下產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào)，形成樣品表面的形貌像。...
MORE2024-11-18
SEM掃描電鏡的主要操作過(guò)程介紹
掃描電鏡的主要操作過(guò)程可以歸納為以下幾個(gè)步驟：一、開(kāi)機(jī)與準(zhǔn)備 接通電源：確認(rèn)掃描電鏡及其附屬設(shè)備（如真空系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)）處于正常工作狀態(tài)。在電鏡基座的前面板上找到綠（ON）、黃（STANDBY）、紅（OFF）三個(gè)按鈕，按紅鈕使電鏡通電。...
MORE2024-11-15
SEM掃描電鏡能觀(guān)察那些樣品
掃描電鏡是一種功能強(qiáng)大的顯微鏡技術(shù)，能夠觀(guān)察和分析多種類(lèi)型的樣品。以下是一些SEM掃描電鏡可以觀(guān)察的樣品類(lèi)型及其相關(guān)應(yīng)用：一、材料科學(xué)領(lǐng)域 金屬材料：掃描電鏡可用于觀(guān)察合金的晶粒結(jié)構(gòu)和相界面，幫助優(yōu)化合金成分和制造工藝，提高材料強(qiáng)度和耐腐蝕性。此外，還可以分析金屬表面的腐蝕情況，從而幫助改進(jìn)防腐蝕涂層的設(shè)計(jì)。陶瓷材料：通過(guò)SEM掃描電鏡可以分析陶瓷材料的微觀(guān)裂紋和孔隙，改進(jìn)燒結(jié)工藝和配方，增強(qiáng)陶瓷的硬度和韌性。...
MORE2024-11-14
SEM掃描電鏡操作失誤怎么辦
在使用掃描電鏡時(shí)，若發(fā)生操作失誤，首先需要冷靜下來(lái)，不要慌張，然后按照以下步驟進(jìn)行應(yīng)對(duì)：一、識(shí)別問(wèn)題 觀(guān)察現(xiàn)象： 注意顯示屏上的圖像是否異常，如模糊、漂移、失真等。檢查設(shè)備是否有報(bào)警或錯(cuò)誤提示。...
MORE2024-11-13
SEM掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛，它以其高分辨率和多功能性成為研究金屬材料微觀(guān)結(jié)構(gòu)和性能的重要工具。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹：一、金屬材料微觀(guān)組織分析 掃描電鏡可用于觀(guān)察金屬材料的微觀(guān)組織，包括晶粒結(jié)構(gòu)、相界面、析出物等。通過(guò)SEM掃描電鏡圖像，研究人員可以清晰地看到金屬材料的晶粒形態(tài)、大小和分布，以及不同相之間的界面關(guān)系。...
MORE2024-11-12
SEM掃描電鏡不能檢測(cè)那些樣品
掃描電鏡作為一種高分辨率的顯微技術(shù)，在材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。然而，SEM掃描電鏡也存在一些限制，以下是一些掃描電鏡通常無(wú)法直接檢測(cè)的樣品類(lèi)型及相關(guān)注意事項(xiàng)：液體樣品：SEM掃描電鏡需要在真空條件下運(yùn)行，而液體會(huì)在真空狀態(tài)下迅速蒸發(fā)，因此無(wú)法直接對(duì)液體樣品進(jìn)行測(cè)試。若需要對(duì)液體樣品進(jìn)行分析，通常需要將其轉(zhuǎn)化為固體形態(tài)，如通過(guò)干燥、冷凍等方法處理后再進(jìn)行測(cè)試。...
MORE2024-11-11
SEM掃描電鏡可以進(jìn)行哪些試驗(yàn)
是一種利用高能電子束與樣品相互作用而得到顯微圖像的儀器，其分辨率高，能夠觀(guān)察到更小尺寸的樣品表面細(xì)節(jié)。SEM掃描電鏡可以進(jìn)行的試驗(yàn)項(xiàng)目非常廣泛，主要包括以下幾個(gè)方面：一、表面形貌觀(guān)察 掃描電鏡可以觀(guān)察各種材料的表面形貌，如金屬、陶瓷、聚合物、纖維和生物材料等。通過(guò)SEM掃描電鏡，可以清晰地看到樣品表面的微觀(guān)結(jié)構(gòu)，如晶體結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸、纖維結(jié)構(gòu)等。...
MORE2024-11-08
為什么要使用SEM掃描電鏡
掃描電鏡，即掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope），之所以被廣泛使用，主要?dú)w因于其在微觀(guān)結(jié)構(gòu)觀(guān)察和成分分析方面的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。以下是使用SEM掃描電鏡的主要原因：一、高分辨率成像 掃描電鏡利用電子束而非光子進(jìn)行成像，因此具有比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡更高的分辨率。...
MORE2024-11-07
SEM掃描電鏡的小知識(shí)點(diǎn)介紹
掃描電鏡（Scanning Electron Microscope）是一種介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的微觀(guān)形貌觀(guān)察手段，以下是關(guān)于SEM掃描電鏡的一些小知識(shí)點(diǎn)介紹：一、掃描電鏡的基本構(gòu)造 SEM掃描電鏡主要由電子槍、電子透鏡、掃描系統(tǒng)、電子收集系統(tǒng)（形貌分析）、成像熒光屏以及X射線(xiàn)接收系統(tǒng)（成分分析）等部件組成。...
MORE2024-11-06
SEM掃描電鏡的五大應(yīng)用介紹
掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中。以下是SEM掃描電鏡的五大應(yīng)用領(lǐng)域介紹：一、材料科學(xué) 在材料科學(xué)領(lǐng)域，掃描電鏡主要用于觀(guān)察材料的微觀(guān)結(jié)構(gòu)和形貌。通過(guò)SEM掃描電鏡，可以詳細(xì)分析金屬、陶瓷、聚合物等材料的晶粒、相界面、缺陷和裂紋等細(xì)節(jié)。...
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